EUR 75.39 USD 66.43
Курс валют на 15.12.2018

Физики испытали метод определения характеристик оптических наносистем

Новая разработанная специалистами модель позволяет описывать возможности взаимодействия света с произвольно выбранной поверхностью. Данная технология облегчает процессы проектирования устройств, используя матаматериалы и графен.

Создана модель физиками России и Франции, благодаря ей можно формировать важнейшую характеристику для оптической системы, называемую - матрицей рассеяния. Положительный результат получен благодаря возможности созданной модели описывать процессы взаимодействия света и любой поверхности. Данная матрица рассеяния незаменима в проектировании любых оптических приборов, так как за основу взяты данные о падающем свете с возможность прогноза его дальнейшего попадания в заранее определенное место.


Как считают авторы модели, их подход расчета матрицы можно использовать как при прямоугольной, так и криволинейной системам координат. Использование данного метода позволяет рассчитывать электромагнитные поля численными методами.

Протестировали модель ученые на гофрированном графене, используя поверхность кремния. Так же, провели эксперименты с графеном и кремнием, включая добавления из тонкого слоя оксида кремния. Физики уверены, что будущее метода будет связано с измерениями предсказаний оптических характеристик существующих материалов, а также ускорением процессов разработки с их применением.



 
Наука
Добавил: Дубов Дмитрий 20-06-2018, 15:10

Читайте также
Добавить комментарий



Кликните на изображение чтобы обновить код, если он неразборчив



ПОСЛЕДНИЕ НОВОСТИ