Физики испытали метод определения характеристик оптических наносистем

Новая разработанная специалистами модель позволяет описывать возможности взаимодействия света с произвольно выбранной поверхностью. Данная технология облегчает процессы проектирования устройств, используя матаматериалы и графен.

Создана модель физиками России и Франции, благодаря ей можно формировать важнейшую характеристику для оптической системы, называемую - матрицей рассеяния. Положительный результат получен благодаря возможности созданной модели описывать процессы взаимодействия света и любой поверхности. Данная матрица рассеяния незаменима в проектировании любых оптических приборов, так как за основу взяты данные о падающем свете с возможность прогноза его дальнейшего попадания в заранее определенное место.


Как считают авторы модели, их подход расчета матрицы можно использовать как при прямоугольной, так и криволинейной системам координат. Использование данного метода позволяет рассчитывать электромагнитные поля численными методами.

Протестировали модель ученые на гофрированном графене, используя поверхность кремния. Так же, провели эксперименты с графеном и кремнием, включая добавления из тонкого слоя оксида кремния. Физики уверены, что будущее метода будет связано с измерениями предсказаний оптических характеристик существующих материалов, а также ускорением процессов разработки с их применением.
Автор: Дубов Дмитрий
20-06-2018, 15:10


Читайте также
Добавить комментарий


Введите комментарий:



Антивоенное этническое движение «Новая Тыва» (New Tuva), Общество с ограниченной ответственностью «Три «Ч», Боровой Константин Натанович, Транс, Издание «Проект», Общество с ограниченной ответственностью «Вольные люди», Общество с ограниченной ответственностью «Процесс 2021», Региональная общественная организация помощи женщинам и детям, находящимся в кризисной ситуации «Информационно, признаны в РФ иностранными агентами.
ПОСЛЕДНИЕ НОВОСТИ
Просмотреть все новости